Sintec新特 STKM- Chromatics光学和涂料的宽带色散测量

STKM-Chromatics是第一个也是唯一一个专门设计用于测量光学元件群延迟色散的生产级测试仪器。它是一种快速、准确地表征光学元件和涂层的全色散特性的宽带光学测试仪器。细致的针对超快激光系统、多层反射镜和多量子阱结构的至关重要的最佳性能的光色散管理。STKM-Chromatics非常便于操作、并且有高精度的，自校准的功能。

仪器的主要性能参数包括：

• 群时延色散（GDD）精度：±5FS

• 同时测量两个极化

• 快速测量-通常测量每个极化只需要几秒钟

• He-Ne参考激光器用于自动、内置的每个测量的自校准。该仪器不使用分光计，不需要光谱仪校准。

• 标准设计的1和2直径光学，高度可重复的夹具和光机械参考

精密夹具可用于：

• 0°入射角（AOI）在反射中的作用

• 5°- 70°AOI反射

• 0°-70°AOI变速器

• 具有可变AOI（6°- 54°）的镜像对测量（可用作升级选项）

• 用于反射和透射操作模式的参考光学器件

三个用户可更换的探测器模块（包括标准系统的硅模块）：

• 硅：500nm～1100nm

• InGaAs：1000纳米-1650nm（可用作升级选项）

• 新的2017：PBS：1400纳米- 2200纳米（可用作升级选项）

• 为技术人员或电力用户提供简单、直观的图形用户界面。并生成自定义测量报告。

• 包括笔记本电脑，预先安装的测量和控制软件

• 现场安装和培训访问可作为升级选项。

• 可定制的测量配置。

应用：

• 验证涂层设计

• 进入光学检查

• QA / QC计量

以上示例显示了涂料公司期望在1030nm的波长范围内制造具有固定量的GDD的涂层。STKM-Chromatic在GDD的优化设计中具有非常宝贵的作用。

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