Instrument Systems EOP 用于测量辐照度的光学探头 Instrument Systems 提供一系列用于测量辐照度和通用辐射耦合的 EOP。这些 EOP 的主要差别在于光吞吐量、余弦修正度数和光谱范围。所有 EOP 光学探头都包含一个用于散射入射光的漫射器。在漫射器的后面是光纤的进口面，光通过它耦合到光谱仪。 应用 对于一般应用，建议使用光学探头 EOP 120 和 EOP 121（横向纤维束连接器），因为它们可以在好的余弦修正和好的光吞吐量之间实现最佳折衷。 需要好至极好的余弦修正来测量扩展光源，尽管这总是以光吞吐量为代价。光学探头 EOP-146 适合此用途。 光学探头 EOP 140 仅适用于需要高光吞吐量的应用。型号 EOP 542 适用于固定视场 (5.7º) 测量，主要用于测量直射阳光。 Instrument Systems 提供积分球 ISP 40，可以广泛的光谱范围实现最优化的余弦修正。由于球的积分效应，无论光束收敛还是发散都会捕获整个光束，并通过光纤束与光谱仪耦合。 产品类型 型号 余弦校正精度 光传导率 光谱范围 用途 配光纤束连接 EOP-146 良好 中等...