Instrument Systems TOP 200/150 用于辐射和亮度测量的光学探头 TOP 200 光学探头基于普里查德式光学设计，带有集成式取景相机。 产品特长： 普里查德式光学设计配有倾斜度仅 15º 的孔镜，可以提供非常圆的清晰图像点 光纤的灵活连接和获取可重现读数的专利模式混合器，以及极低的偏振灵敏度 可通过软件选择的 6 种测量点大小 具有宽视场的内部取景相机 最小的测量点：80 µm 测试对象的可选照明 TOP 150 是具有单孔径的低成本替代产品。 测量应用 测得的辐射强度由 TOP 200 通过多模光纤耦合到光谱仪中。Instrument Systems 的专利模式混合器可确保光纤中的光透射均匀，即使光纤位置改变，也可产生可重现读数。 普里查德原则支持在测量过程中观察视场，并监控视场进行准确定位。取景相机的图像由 SpecWin Pro 软件自动导入并与读数一起保存。 产品类型 型号 描述 基本规格和光纤 TOP200-100  光学探头的基本规格，带多模光纤和光纤束连接器 （无镜头和光纤） TOP200-203 带模式混合器和 PLG 适配器的多模光纤（长度为 2.3...