Instrument Systems LED 4xx 光强度测量套筒

Instrument Systems LED 4xx 光强度测量套筒 Instrument Systems 开发了各种用于测定 LED 平均光强度 ILED-B [cd] 的测量套筒。这些套筒视可用光谱范围(仅可见或 UV)、测量几何结构和计划的应用(实验室或生产)而异。 测量套筒包含一个形成正好 1 cm² 灵敏探测器表面的漫射器。在漫射器的后面是光纤束,光束通过它耦合到光谱仪中。此设计的特点是高光吞吐量和探测器表面足够的同质性。因此,LED-4xx 系列测量套筒特别适合低光 LED,并用于快速生产测试。 测量应用 LED 4xx 测量套筒可接受 LED 5xx、LED 6xx 和 LED 81x 系列的所有测试夹具。夹紧机构可始终确保 LED 的可重现且精确对准。缩短版测量套筒可用于生产(例如,用于安装在 LED 处理机上)。 对于需要最高精度的应用,开发了光学探头 LED 25,用于根据 CIE 127 测定“平均 LED 强度”。后者基于积分球,因此即使光吞吐量减少,也会在整个探测器表面提供同质光敏度。 产品种类 型号 光谱范围 测量几何 结构类型 用于实验室应用的测量...
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货号:
LED 4xx

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Instrument Systems LED 4xx 光强度测量套筒

Instrument Systems 开发了各种用于测定 LED 平均光强度 ILED-B [cd] 的测量套筒。这些套筒视可用光谱范围(仅可见或 UV)、测量几何结构和计划的应用(实验室或生产)而异。

测量套筒包含一个形成正好 1 cm² 灵敏探测器表面的漫射器。在漫射器的后面是光纤束,光束通过它耦合到光谱仪中。此设计的特点是高光吞吐量和探测器表面足够的同质性。因此,LED-4xx 系列测量套筒特别适合低光 LED,并用于快速生产测试。

测量应用

LED 4xx 测量套筒可接受 LED 5xx、LED 6xx 和 LED 81x 系列的所有测试夹具。夹紧机构可始终确保 LED 的可重现且精确对准。缩短版测量套筒可用于生产(例如,用于安装在 LED 处理机上)。

对于需要最高精度的应用,开发了光学探头 LED 25,用于根据 CIE 127 测定“平均 LED 强度”。后者基于积分球,因此即使光吞吐量减少,也会在整个探测器表面提供同质光敏度。

产品种类

型号

光谱范围

测量几何

结构类型

用于实验室应用的测量套筒 (配 LED 测试夹具)

LED-436

可见光-红外线

CIE ILED-B

余弦接收器

LED-437

紫外线-可见光-近红外线

LED25-431

紫外线-可见光-近红外线

CIE ILED-B

积分球

用于生产线应用的删减型测量套筒

LED-433

可见光-红外线

CIE ILED-B

余弦接收器

LED-434-B

紫外线-可见光-近红外线

LED-453

可见光-红外线

50 mm 测量距离下 0.01 sr

 

LED-454

紫外线-可见光-近红外线

LED-439

可相接 LED-43x 和 LED-45x 的扩展型号 

LED25-235

 

CIE ILED-B

积分球

测量应用


 

固态照明测量


 

LED 及 LED 模块测量


 

汽车内部照明


 

显示屏特性测量


 

平板显示器产线测量


 

蓝光危害


 

LED 生产测量

 

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