EUROPTICS欧光 WaveSensor® 波前传感器
EUROPTICS欧光 WaveSensor® 波前传感器 擅长为客户的所有需求提供最前沿的技术WaveSensor® 波前传感器 系列产品是应用夏克—哈特曼传感器的测量原理研制而成的，并配备专门的操作与分析软件，可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检验、介质扰动对光束质量影响的测量、大型球面镜表面面形精度的检测等。利用WaveSensor®可获得丰富的光束质量及空间、时间信息，是深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段，因此WaveSensor®已成为检测各类大型反射镜面形的一种专用设备。 产品特点 *常规光学元件面形检测（平面、球面、透镜等） *大口径光学元件检测 *光学系统像差检测 *激光器输出波面检测 *光束质量诊断 *光束动态变化测 *自适应系统的波前探测 产品型号及技术指标 产品型号 WaveSensor® 150 孔径尺寸 15mm×15mm 阵列透镜数 138×138 动态范围 2000λ 倾斜测量灵敏度 < 1μrad 绝对精度(RMS) < λ/20 重复性(RMS) < &la...
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WaveSensor®
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描述
EUROPTICS欧光 WaveSensor® 波前传感器
擅长为客户的所有需求提供最前沿的技术WaveSensor® 波前传感器 系列产品是应用夏克—哈特曼传感器的测量原理研制而成的，并配备专门的操作与分析软件，可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检验、介质扰动对光束质量影响的测量、大型球面镜表面面形精度的检测等。利用WaveSensor®可获得丰富的光束质量及空间、时间信息，是深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段，因此WaveSensor®已成为检测各类大型反射镜面形的一种专用设备。
产品特点
*常规光学元件面形检测（平面、球面、透镜等）
*大口径光学元件检测
*光学系统像差检测
*激光器输出波面检测
*光束质量诊断
*光束动态变化测
*自适应系统的波前探测
产品型号及技术指标
| 产品型号 | WaveSensor® 150 |
| 孔径尺寸 | 15mm×15mm |
| 阵列透镜数 | 138×138 |
| 动态范围 | 2000λ |
| 倾斜测量灵敏度 | < 1μrad |
| 绝对精度(RMS) | < λ/20 |
| 重复性(RMS) | < λ/200 |
| 波长 | 405...1100nm(可扩展至350nm) |
| 接口类型 | IEEE1394B |
| 产品尺寸 | 74mm×100mm×144mm |
| 产品重量 | 1000g |
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